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ICT技術(shù)之Boundary-Scan邊界掃描

2020-05-19 12:01:49 1674

在百分之八九十的線路板生產(chǎn)廠家中,ICT測試儀要求每一個電路節(jié)點至少有一個測試點。但隨著器件集成度增高,功能越來越強(qiáng),封裝越來越小,SMT加工元件的增多,多層板的使用,PCBA板元件密度的增大,要在每一個節(jié)點放一根探針變得很困難,為增加測試點,使制造費(fèi)用增高;同時為開發(fā)一個功能強(qiáng)大器件的測試庫變得困難,開發(fā)周期延長。為此,聯(lián)合測試組織(JTAG)頒布了IEEE1149.1測試標(biāo)準(zhǔn)。

 

IEEE1149.1定義了一個掃描器件的幾個重要特性。首先定義了組成測試訪問端口(TAP)的四(五〕個管腳:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。測試方式選擇(TMS)用來加載控制信息;其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式,主要有外測試(EXTEST)、內(nèi)測試(INTEST)、運(yùn)行測試(RUNTEST);最后提出了邊界掃描語言(Boundary Scan Description Language),BSDL語言描述掃描器件的重要信息,它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型,定義了TAP的模式和指令集。

 

具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串行移位寄存器(SSR)的單元相接,稱為掃描單元,掃描單元連在一起構(gòu)成一個移位寄存器鏈,用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務(wù)。

 

將多個掃描器件的掃描鏈通過他們的TAP連在一起就形成一個連續(xù)的邊界寄存器鏈,在鏈頭加TAP信號就可控制和檢測所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對器件每個管腳的物理接觸,虛擬訪問代替實際物理訪問,去掉大量的占用PCB板空間的測試焊盤,減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。

 

作為一種測試策略,在對PCB板進(jìn)行可測性設(shè)計時,可利用專門軟件分析電路網(wǎng)點和具掃描功能的器件,決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測試點,而又不減低測試覆蓋率,最經(jīng)濟(jì)的減少測試點和測試針。

 

邊界掃描技術(shù)解決了無法增加測試點的困難,更重要的是它提供了一種簡單而且快捷地產(chǎn)生測試圖形的方法,利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測試圖形,如Teradyne的Victory,GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解決編寫復(fù)雜測試庫的困難。

 

用TAP訪問口還可實現(xiàn)對如CPLD、FPGA、Flash Memroy的在線編程(In-System Program或On Board Program)。

標(biāo)簽: pcba

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